Comment déterminer soufre Utilisation XRF

X -ray fluorescence - ou XRF - spectroscopie est utilisée par les chimistes , les physiciens et les travailleurs de la science des matériaux pour identifier la composition d'un échantillon géologique - surtout des roches et des sols . Cette technique analyse et mesure la quantité d' éléments du tableau périodique ayant des nombres atomiques supérieurs à 15 Le soufre est l' élément le plus léger qui est utile pour la XRF - . Mesure de l'énergie de la lumière émise par un échantillon après excitation par des rayons X . Avec du soufre , de l'énergie des raies d'émission sont à 2,3 keV . L'examen des spectres d'émission d'une analyse XRF indique la présence ou l'absence de soufre dans les sample.Things analytiques dont vous aurez besoin
instrument XRF
normes Rock
échantillons
Concasseur de Grinder - - pour les échantillons solides comme des roches géologiques
afficher Instructions
Le 1

Allumez l'instrument XRF , et permettent une période d'échauffement pour assurer un fonctionnement stable . La source de rayons X doit stabiliser émission pour fournir une intensité constante pour l' illumination de l'échantillon. Réchauffer l'instrument pour un minimum de 30 minutes , avant toute analyse .
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obtenir l'analyse de plusieurs standards du rock qui ont une composition qui comprend soufre . Ceci permet d'obtenir une corrélation entre la quantité de soufre dans l'échantillon et l'intensité du signal d'émission de l'échantillon.
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Passez votre échantillon d'analyse dans un broyeur , de le casser en morceaux de 1 à 10 mm . L' étape de broyage permet d' homogénéiser l'échantillon , la fourniture des pièces qui constituent l'échantillon en vrac .
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Séparer une petite partie de l'échantillon qui mesure entre quelques grammes à 100 grammes d' échantillon broyé . Placez-le dans un moulin , et moudre en poudre fine.
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Analyser l'échantillon en poudre , et obtenir la sortie spectrale de l'instrument XRF . Les spectres produite est un graphique en deux dimensions de l'intensité en fonction de l'énergie des rayons X émis . L'énergie des rayons X émis les identifier les éléments contenus dans l'échantillon . Et l'intensité indique le montant de chaque élément particulier .
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Examiner la région autour de 2,3 keV pour la présence de pics qui sont représentatifs de soufre . Les deux pics principaux de soufre sont 2,307 et 2,308 keV - qui correspond à la transition de K et L à l'intérieur de soufre . Si l'un ou les deux de ces pics sont présents dans le spectre , alors le soufre est présent dans l'échantillon. L'absence de ces deux pics indique l'échantillon ne contient pas de soufre .